多孔性金属錯体 (MOF) 中の電子スピンの光検出を初めて実証―高感度なケミカル量子センシングに向けた重要な一歩―（中村敏和チームリーダーら）
多孔性金属錯体中の電子スピンの光検出に初めて成功
日本機会要約
分子科学研究所の研究チームが多孔性金属錯体(MOF)中の電子スピンを光学的に検出することに初めて成功した。高感度なケミカル量子センシングの実現に向けた基礎的成果として位置づけられている。
機会の側から考える
量子センシング技術が実用化に近づけば化学分析や磁気検出の精度向上が期待されるが、どの産業が最初に恩恵を受けるかはまだ不透明である。
記事に書かれた事実ではなく、読む人が考えるための問いかけです。キーワード
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